HCP421V-PM 微型探針冷熱臺
HCP421V-PM可單獨使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -190℃ ~ 400℃ 范圍內控溫，同時允許探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。
探針臺上蓋與底殼構成一個可抽真空的密封腔，亦可內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。
功能特點：
·迷你溫控探針臺，可用于 顯微鏡/光譜儀
·-190℃~400℃ 可編程控溫（負溫需配液氮制冷系統）
·φ26 mm加熱區
·可抽真空的腔體，亦可充入保護氣體使用
·SMA接頭轉BNC四探針，手動點針,
·可選六探針 *可選三同軸接口，用于pA級測試
·可選增設腔內接線柱（樣品接電引線）
·可從溫控器或電腦軟件控制，可提供軟件SDK
溫控參數
溫度范圍
-190℃ ~ 400℃（負溫需配液氮制冷系統）
傳感器/溫控方式
100Ω鉑RTD / PID控制（含LVDC降噪電源）
*大加熱/制冷速度
30℃/min
*小加熱/制冷速度
±0.01℃/min
溫度分辨率
0.01℃
溫度穩定性
±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）
軟件功能
可設溫控速率，可設溫控程序，可記錄溫控曲線
電學參數
探針
默認為錸鎢材質的彎針探針 *可選其他種類探針
杠桿式探針支架，點針力度更大，電接觸性更好
點針
手動點針，每個探針座都可點到樣品區上任意位置
探針接口
默認為SMA接頭轉BNC
*可增設腔內接線柱（樣品接電引線）
樣品臺面電位
默認為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸接口
非磁性改造
臺體可改用非磁性材質制造，用于變溫霍爾效應探針測試
光學參數
適用光路
反射光路*另有透射光路型號
窗片
可拆卸與更替的窗片
*小物鏡工作距離
8 mm *截面圖中WD
透光
臺面默認無通光孔，可增設通光孔以支持透射光路
上蓋窗片觀察
窗片范圍φ18mm，*大視角±45° *截面圖中θ1
負溫下窗片除霜
吹氣除霜管路
結構參數
加熱區/樣品區
φ26 mm
樣品腔高
5.8 mm *樣品*大厚度由探針決定
打開上蓋后置入樣品再點針，關上蓋后無法移動探針
可通循環水，以維持外殼溫度在常溫附近
配置列表
基本配置
HCP421V-PM溫控探針臺、mK2000B溫控器、外殼循環水冷系統
可選配件
安裝支架、測試源表、真空系統、三同軸BNC接口、臺面電懸空、樣品接電引線